日本尼康Nikon XT V160 X射線
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中小型電子元器件檢測用的頂級設備
主要特點:
• 亞微米級的焦點尺寸NanoTech™射線管
• 快速獲取高品質的圖像
• 可以同時放置多件樣品的大托盤載物台
• 可以自定義宏讓工作流程自動化
引進功能
• 靈活的操作集成到一個緊湊的系統里
• 人機交互式的可視化功能
• 全自動X射線檢測功能
• 詳細分析用的CT功能（選配）
• 最大可達75°的傾斜觀測角度
• 直觀的GUI界面與交互式操作桿導航功能進行快速檢測
• 便於維護的開管式設計使得維護成本被降低到最小
• 不需要額外保護措施的射線計量安全系統
• 佔用空間小，重量輕，安裝設置簡便
用途
• BGA檢測分析
• 焊錫空洞檢測
• 通孔檢測
• 芯片銀膠空洞檢測
• 球形引腳連接檢測
• 壓線連接檢測
• 微小BGA檢測
• Padarray檢測
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